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談?wù)勅鴺?biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)頭的正確使用
測(cè)頭是三坐標(biāo)機(jī)非常關(guān)鍵的部件, 主要用來(lái)觸測(cè)工件表面,是測(cè)量機(jī)觸測(cè)被測(cè)零件的發(fā)訊開(kāi)關(guān), 測(cè)頭的正確使用決定了測(cè)量機(jī)的測(cè)量重復(fù)性
2015-03-23
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測(cè)頭是三坐標(biāo)機(jī)非常關(guān)鍵的部件,主要用來(lái)觸測(cè)工件表面,是測(cè)量機(jī)觸測(cè)被測(cè)零件的發(fā)訊開(kāi)關(guān),測(cè)頭的正確使用決定了測(cè)量機(jī)的測(cè)量重復(fù)性。
紅寶石是非常硬的材料,做成的測(cè)頭的磨損量小。他的密度也非常低,質(zhì)量小,從而可以避免由于機(jī)器運(yùn)動(dòng)和振動(dòng)而造成的測(cè)頭誤觸發(fā)。
測(cè)頭的正確使用
測(cè)頭使用過(guò)程中,要求測(cè)頭的剛性和測(cè)尖的形狀都達(dá)到盡可能好的程度,保證一定的測(cè)量精度,在對(duì)測(cè)頭的使用上,應(yīng)注意:
(1)測(cè)頭長(zhǎng)度盡可能短。測(cè)頭彎曲或偏斜越大,精度將越低。因此在測(cè)量時(shí),盡可能采用短測(cè)頭。
(2)連接點(diǎn)少。每次講測(cè)頭與加長(zhǎng)桿連接在一起是,就額外引入了新的潛在彎曲和變形點(diǎn)。因此在應(yīng)用過(guò)程中,盡可能減少連接的數(shù)目。
(3)使測(cè)球盡可能大,主要原因有兩個(gè):使得球/桿的空隙大,這樣可減少了由于“晃動(dòng)”而誤觸發(fā)的可能;測(cè)球直徑較大可削弱被測(cè)表面未拋光對(duì)精度造成的影響。
避免桿的碰撞
測(cè)量時(shí)若測(cè)桿與零件接觸,而不是用觸點(diǎn),測(cè)量系統(tǒng)則認(rèn)為是用觸點(diǎn)采樣的,因此將引起很大的誤差。此時(shí),增加測(cè)桿球直徑將增加球/柱空間,從而減少桿碰撞的可能性,如圖3所示。有效工作長(zhǎng)度是測(cè)桿碰到特征之前,測(cè)桿可以達(dá)到的深度,通常,球越大,有效工作長(zhǎng)度就越大。使用較大的測(cè)桿球還可以減少被檢組件表面粗糙度的影響;但是,可以使用的大球受到所測(cè)量的小孔的限制。此外,測(cè)頭是測(cè)量?jī)x器,應(yīng)保持其清潔,并小心愛(ài)護(hù),使它保持其大小和形狀。測(cè)桿紅寶石觸點(diǎn)應(yīng)該保持無(wú)污物,1μm的灰塵就可能導(dǎo)致1μm的測(cè)量誤差。
測(cè)頭的校驗(yàn)
采用接觸式測(cè)頭測(cè)量時(shí),由于測(cè)頭半徑的影響,獲得的坐標(biāo)數(shù)據(jù)并不是測(cè)頭所觸及的表面的坐標(biāo),而是測(cè)頭球心的坐標(biāo),當(dāng)被測(cè)點(diǎn)的表面法矢方向和測(cè)軸方向一致時(shí),測(cè)頭坐標(biāo)和測(cè)頭中心相差一個(gè)測(cè)頭半徑值。如果忽略測(cè)頭半徑,即測(cè)量獲得的數(shù)據(jù)不進(jìn)行半徑補(bǔ)償處理,就會(huì)帶來(lái)數(shù)據(jù)補(bǔ)償誤差。因此,在對(duì)工件進(jìn)行檢測(cè)之前,需對(duì)所使用的測(cè)桿進(jìn)行校驗(yàn),需要對(duì)實(shí)際的接觸點(diǎn)與軟件紀(jì)錄的位置沿著測(cè)點(diǎn)矢量方向進(jìn)行的測(cè)頭半徑位置的補(bǔ)償,如圖所示。
通過(guò)校驗(yàn),需消除以下三方面的誤差:
(1)理論測(cè)頭半徑與實(shí)際測(cè)測(cè)頭半徑之間的誤差;
(2)理論測(cè)桿長(zhǎng)度與實(shí)際測(cè)桿長(zhǎng)度的誤差;
(3)測(cè)頭旋轉(zhuǎn)角度之誤差。
通過(guò)校驗(yàn)消除以上3個(gè)誤差,獲得正確的補(bǔ)償值。因此校驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確度,直接影響工件的檢測(cè)結(jié)果。
坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)頭是非常重要的一個(gè)部件,正確使用就能確保坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量精度、測(cè)量范圍和測(cè)量效率。
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